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Manipulação transversal de feixes atômicos para possível uso em litografia atômica; Transverse manipulation of atomic beams with potential use in atomic litography

Alves, Marcos Veríssimo
Fonte: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP Publicador: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
Tipo: Dissertação de Mestrado Formato: application/pdf
Publicado em 30/10/1997 PT
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Desde o desenvolvimento de técnicas para controlar o movimento atômico usando a força de pressão de radiação, muitas aplicações tem sido sugeridas e implementadas. Entre estas, o aprisionamento atômico e o desenvolvimento de estruturas espaciais com átomos frios merece atenção especial devido à sua potencial aplicação em depósitos superficiais como litografia. Realizamos, neste trabalho, um estudo sobre feixes atômicos e sua desaceleração e compressão espacial. Realizamos também estudos numéricos sobre a formação de estruturas em anéis em feixes atômicos, verificando ser factível, e estudando também a compressão destas estruturas espaciais, com vistas a possíveis aplicações em nanolitografia atômica.; From the very beginning of the development of atomic motion control techniques using the radiation pressure force, a variety of applications have been suggested and implemented. Of all these, atomic trapping techniques and the development of spatial structures using cold atoms deserves special attention due to its potential application to surface deposition such as lithography. In the present work, we perform a study on atomic beams and their deceleration and spatial compression. We also perform numerical studies and present experimental observation of the realization of spatial ring structures in atomic beams...

Sistema de microscopia com multi-pontas : força atômica e campo próximo; Multiprobe microscopy system : atomic force and near field optics

Suárez, Vanessa Isabel Tardillo
Fonte: Universidade Federal de Alagoas; BR; Física geral; Física teórica e computacional; Mecânica estatística; Ótica; Ótica não linear; Proprie; Programa de Pós-Graduação em Física da Matéria Condensada; UFAL Publicador: Universidade Federal de Alagoas; BR; Física geral; Física teórica e computacional; Mecânica estatística; Ótica; Ótica não linear; Proprie; Programa de Pós-Graduação em Física da Matéria Condensada; UFAL
Tipo: Dissertação Formato: application/pdf
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In this work we made a review of how a multi-probes microscope using Atomic Force and Near Field Scanning Microscopy works. Currently, the Nanonics Multiview 4000 instaled at the Materials Caracterization and Microscopy Laboratory (LCMMAT) is not completly working. Nowadays, we are able to do Atomic Force Microscopy (AFM) and reflection and transmission Scanning Near Field Microscopy (SNOM) measurements. This kind of microscope have three probes which are able to do simultaneaous mesurements of AFM, C-AFM, SNOM, Raman Microscopy and nanolitography. It is the first multi-probe microscope to be instaled in Latin America. This work consists in studying the structure of this kind of microscope, how does it make AFM and SNOM measurements and how to analise them. We study the different electronic circuits which are used in this kind of microscopes and we compare both optical and tuning-fork feedback. It was explain step by step how to do and AFM and SNOM measurement. We study the processing and analise of this measurements. Finally, we made some different measurements using this tecniques. Some of this measurements were compared with that found in references in order to try to find some possible aplications which could be useful for future researches at our laboratory.; Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior; Neste trabalho realizamos uma revisão do funcionamento do Microscópio Raman Confocal Multipontas com Campo Próximo e Força Atômica modelo Multiview 4000 da empresa Nanonics. Atualmente...

Nano-chemistry and scanning probe nanolithographies

García García, Ricardo; Martínez Garrido, Ramsés Valentín; Martínez, Javier
Fonte: Royal Society of Chemistry (Great Britain) Publicador: Royal Society of Chemistry (Great Britain)
Tipo: Artículo Formato: 867724 bytes; application/pdf
ENG
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The development of nanometer-scale lithographies is the focus of an intense research activity because progress on nanotechnology depends on the capability to fabricate, position and interconnect nanometer-scale structures. The unique imaging and manipulation properties of atomic force microscopes have prompted the emergence of several scanning probe-based nanolithographies. In this tutorial review we present the most promising probe-based nanolithographies that are based on the spatial confinement of a chemical reaction within a nanometer-size region of the sample surface. The potential of local chemical nanolithography in nanometer-scale science and technology is illustrated by describing a range of applications such as the fabrication of conjugated molecular wires, optical microlenses, complex quantum devices or tailored chemical surfaces for controlling biorecognition processes.; The authors would like to thank Fabio Biscarini for providing the much needed input to write the manuscript and Marta Tello for her valuable suggestions. This work was financially supported by the MCyT (Spain) (MAT2003-02655) and the European Commission (NAIMO, IP NMP4-CT-2004-500355).; Peer reviewed